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光學輪廓儀ContourGT-X

品 牌:Bruker

產 地:德國

型 號:ContourGT-X

關鍵詞標簽:白光干涉儀;ContourGT-X;三維表面測量
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       用于工藝質量監控定標性測試系統ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的高性能儀器。它積累了前十代產品在白光干涉技術上的創新,實現了快速地三維表面測量,從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量,垂直分辨率可達亞納米級。可編程的XYZ控制和獨特的掃描頭自動控制,使得儀器操作簡便易行。配備zui新的Vision64軟件,具有業界zui強的儀器測量和數據分析功能,而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了極大的便利。
       ContourGT-X是當今業界zui先進的白光干涉儀,可用于眼科鏡片、醫療器械、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和精密加工零件等各行業,為用戶提供zui快速、準確地三維非接觸式測量。內部激光自校準專利技術可以自動校準因環境或機械不穩定產生的漂移,無需標準塊。大學、研究所,工業領域的LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業、科學研究、產品開發、質量控制及失效分析等領域業界zui先進的白光干涉儀
ContourGT-X配備傾斜調整支架、全自動X,Y, Z 樣品臺、自動視場目鏡轉換臺,測試過程更快、更便捷。節省空間高穩定性的基座設計以及與機臺集成一體式的防震系統,使系統具有zui強的防震性與穩定性。配備zui新的Vision64軟件,具有業界zui強的儀器測量和數據分析功能,而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了極大的便利。

 

儀器特性:
·  業界標桿,大視場下zui高的垂直分辨率
·  從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征
·  硬件的優化設計進一步提升的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性
·  激光自校準專利技術使得儀器間測量數據一致,保證測量的重復性和準確性
·  優異的縫合能力可以對上千個數據無縫拼接,實現樣品大面積檢測
·  多核處理器和64位軟件使數據分析速度提高十倍以上

 

 

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